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半導體離子源專用HD減速機CSF-40-100-2UH

半導體離子源專用HD減速機CSF-40-100-2UH

半導體離子源專用HD減速機CSF-40-100-2UH是指當真空中有一束離子束射向一塊固體材料時,離子束把固體材料的原子或分子撞出固體材料表面,這個現象叫做濺射;而當離子束射到固體材料時,從固體材料表面彈了回來,或者穿出固體材料而去,這些現象叫做散射;另外有一種現象是,離子束射到固體材料以后,受到固體材料的抵抗而速度慢慢減低下來,并最終停留在固體材料中的這一現象叫作離子注入。


半導體離子源專用HD減速機CSF-40-100-2UH是指當真空中有一束離子束射向一塊固體材料時,離子束把固體材料的原子或分子撞出固體材料表面,這個現象叫做濺射;而當離子束射到固體材料時,從固體材料表面彈了回來,或者穿出固體材料而去,這些現象叫做散射;另外有一種現象是,離子束射到固體材料以后,受到固體材料的抵抗而速度慢慢減低下來,并最終停留在固體材料中的這一現象叫作離子注入。


在電子工業中,離子注入成為了微電子工藝中的一種重要的摻雜技術,也是控制MOSFET閾值電壓的一個重要手段。因此在當代制造大規模集成電路中,可以說是一種必不可少的手段。

離子注入的方法就是在真空中、低溫下,把雜質離子加速(對Si,電壓≥105 V),獲得很大動能的雜質離子即可以直接進入半導體中;同時也會在半導體中產生一些晶格缺陷,因此在離子注入后需用低溫進行退火或激光退火來消除這些缺陷。離子注入的雜質濃度分布一般呈現為高斯分布,并且濃度處不是在表面,而是在表面以內的一定深度處。

半導體離子源專用HD減速機CSF-40-100-2UH的優點是能精確控制雜質的總劑量、深度分布和面均勻性,而且是低溫工藝(可防止原來雜質的再擴散等),同時可實現自對準技術(以減小電容效應)。

在工藝流程中,光刻的下一道工序就是刻蝕或離子注入。在做離子注入時,有光刻膠保護的地方,離子束無法穿透光刻膠;在沒有光刻膠的地方離子束才能被注入到襯底中實現摻雜。因此,用于離子注入工藝的光刻膠必須要能有效地阻擋離子束 。

集成電路前道制程中有許多光刻層之后的工藝是離子注入(ion implantation),這些光刻層被稱為離子注入光刻層(implant layers)。離子注入完成后,晶圓表面的光刻膠必須被清除掉,清除離子注入后的光刻膠是光刻工藝中的一個難點。對清除工藝的要求包括:

(1)干凈徹底地去除襯底上的光刻膠;

(2)盡量避免襯底損傷表面,特別是離子注入區域(即沒有光刻膠的區域);

(3)盡量避免對器件(如柵極的金屬)造成傷害 。

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多樣性:原則上任何元素都可以作為注入離子;形成的結構可不受熱力學參數(擴散、溶解度等)限制;

不改變:不改變工件的原有尺寸和粗糙度等;適合于各類精密零件生產的最后一道工序;

牢固性:注入離子直接和材料表面原子或分子結合,形成改性層,改性層和基底材料沒有清晰的界面,結合牢靠,不存在脫落的現象;

不受限:注入過程在材料溫度低于零下、高到幾百上千度都可以進行;可對那些普通方法不能處理的材料進行表面強化,如塑料、回火溫度低的鋼材等;


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