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哈默納科

熒光光譜測金機專用HD諧波減速機CSD-20-50-2UH

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熒光光譜測金機(儀器廠家負責人喻奉波先生,百度搜索人名,找到作者聯系方式就能以團購優惠價購買儀器)利用光的色散、吸收、散射等現象得到與被分析物質有關的光譜,從而對物質成分、結構進行分析、測量的物理光學儀器。儀器其構造由一個入射狹縫,一個色散系統,一個成像系統和一個或多個出射狹縫組成。以色散元件將輻射源的電磁輻射分離出所需要的波長或波長區域,并在選定的波長上(或掃描某一波段)進行強度測定。

簡介

熒光光譜測金機(儀器廠家負責人喻奉波先生,百度搜索人名,找到作者聯系方式就能以團購優惠價購買儀器)利用光的色散、吸收、散射等現象得到與被分析物質有關的光譜,從而對物質成分、結構進行分析、測量的物理光學儀器。儀器其構造由一個入射狹縫,一個色散系統,一個成像系統和一個或多個出射狹縫組成。以色散元件將輻射源的電磁輻射分離出所需要的波長或波長區域,并在選定的波長上(或掃描某一波段)進行強度測定。

性能特點

專業的貴金屬等全元素分析,亦可用于鍍層檢測和RoHS檢測。EXF系列光譜測金機圖片EXF系列光譜測金機圖片電制冷UHRD探測器,摒棄液氮制冷。

內置信噪比增強器可有效提高儀器信號處理能力25倍。

抽真空樣品腔,有利于低含量輕元素的分析

針對不同樣品可自動切換準直器和濾光片。

任意多個可選擇的分析和識別模型

相互獨立的基體效應校正模型

多變量非線性回歸程序

智能全元素分析軟件,與儀器硬件相得益彰,且操作簡單。

技術指標

元素分析范圍:從鈉(Na)至鈾(U)

元素含量分析范圍:1ppm-99.99%

同時分析元素:24種元素同時分析

檢測限:RoHS指令規定的有害元素(Cd/Pb/Cr/Hg/Br)檢出限達1ppm

測量鍍層:鍍層厚度測量最薄至0.005微米,可分析11層以上的鍍層

分析精度:0.05% (96%以上)

測量對象狀態:粉末、固體、液體

測量時間:60s-200s

工作溫度:15℃-30℃

工作濕度:≤70%

工作電壓:AC 110V/220V

標準配置

高效超薄端窗X光管

電制冷UHRD探測器

信噪比增強器

內置高清晰攝像頭

光路增強系統

可自動切換型準直器和濾光片

加強的金屬元素感度分析器

應用領域

貴金屬檢測

鋼鐵和有色金屬檢測

RoHS檢測




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